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![]() 采用双衍射结构和2 × 2片上透镜组合的背照式6 μ m SPAD深度传感器,在940 nm处PDE为36.5%
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期刊:2023 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) 作者:Y. Fujisaki; H. Tsugawa; K. Sakai; H. Kumagai; R. Nakamura; et al 出版日期:2023-07-25 |
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