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Low-stress TSVs for high-density 3D integration
用于高密度3D集成的低应力TSV
相关领域
可靠性(半导体)
压力(语言学)
材料科学
温度循环
通过硅通孔
热的
复合材料
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物理
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功率(物理)
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期刊: 作者:Jingping Qiao; Binbin Jiao; Shiqi Jia; Ruiwen Liu; Shichang Yun; et al 出版日期:2023-05-01 |
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