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 A comparable study of defect diffusion and recombination in Si and GaN Si和GaN中缺陷扩散和复合的比较研究
相关领域
半导体
扩散
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硅
化学物理
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基因
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期刊：Journal of applied physics 作者：Xiang-Ru Han; Yang Li; Pei Li; Xiaolan Yan; Xiaoqiang Wu; et al 出版日期：2022-07-25 |
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