Characterization and Failure Mode Analysis of Cascode GaN HEMT

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标题	[高分] 学位论文 Characterization and Failure Mode Analysis of Cascode GaN HEMT 共源共栅GaN HEMT的表征及失效模式分析相关领域高电子迁移率晶体管共栅表征（材料科学）光电子学材料科学模式（计算机接口）失效模式及影响分析可靠性工程电气工程工程类计算机科学晶体管纳米技术操作系统电压放大器 CMOS芯片
网址	https://vtechworks.lib.vt.edu/bitstream/10919/49580/1/Liu_Z_...
DOI	暂未提供，该求助的时间将会延长，查看原因？
其它	期刊：作者：Zhengyang Liu 出版日期：2014-07-16
求助人	小菜鸟在 2024-08-02 14:53:53 发布自广东，悬赏 50 积分
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