标题 |
Applying grazing incidence X-ray reflectometry (XRR) to characterising nanofilms on mica
应用掠入X射线反射仪(XRR)来描述云母上的纳米膜
相关领域
X射线反射率
云母
反射计
材料科学
光学
刷子
单层
表面光洁度
薄膜
光电子学
复合材料
纳米技术
物理
计算机科学
计算机视觉
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