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 Structure Determination and Defect Analysis n-Si<Lu>, p-Si<Lu> Raman Spectrometer Methods 结构测定和缺陷分析n-Si
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期刊：East European Journal of Physics 作者：Khodjakbar S. Daliev; Sharifa B. Utamuradova; Zavkiddin E. Bahronkulov; Alisher Khaitbaev; Jonibek J. Hamdamov 出版日期：2023-12-02 |
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