| 标题 |
 TEM Sample Preparation Tricks for Advanced DRAMs 先进DRAM的TEM样品制备技巧
相关领域
透射电子显微镜
聚焦离子束
德拉姆
样品制备
材料科学
表征（材料科学）
显微镜
纳米技术
样品（材料）
扫描电子显微镜
光电子学
光学
复合材料
化学
离子
有机化学
物理
色谱法
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Proceedings - International Symposium for Testing and Failure Analysis 作者：Ching Shan Sung; Hsiu Ting Lee; Jian Shing Luo 出版日期：2015-11-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
井哥儿
干净的铅笔
1257
Leonardi
不懈奋进
我不爱池鱼
薰硝壤
张三坟
梦之凌云
爱静静
热切菩萨
InfoNinja
Yziii
坚强的广山
Singularity
pcr163
stuffmatter
敬老院N号
从容芮
shinysparrow
皖公网安备34019202002308
