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 Overcoming Limited Fault Data: Intermittent Fault Detection in Analog Circuits via Improved GAN 克服有限故障数据：基于改进GAN的模拟电路间歇故障检测
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期刊：IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 作者：Xinsheng Fang; Jianfeng Qu; Bowen Liu; Yi Chai 出版日期：2024-01-01 |
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