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Facile interfacial defect healing in solution-processed In-Ga-Zn-O thin film transistor through rapid intense pulsed light annealing
快速强脉冲光退火处理In-Ga-Zn-O薄膜晶体管界面缺陷的简易修复
相关领域
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网址
https://doi.org/10.1016/j.surfin.2023.103751
DOI
10.1016/j.surfin.2023.103751 doi
其它 期刊：Surfaces and Interfaces
作者：Hyun Jae Kim; Kimoon Lee; Chul Jong Han; Byungwook Yoo; Joonho Bang; et al
出版日期：2024-01-01
求助人
yqzl 在 2025-04-24 09:59:38 发布自广东，悬赏 10 积分
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