标题 |
Electron irradiation effects in transmission electron microscopy: Random displacements and collective migrations
透射电子显微镜中的电子辐照效应:随机位移和集体迁移
相关领域
次级电子
材料科学
电场
电子
电子束处理
辐照
透射电子显微镜
原子物理学
二次排放
梁(结构)
辐射损伤
离子束
分子物理学
化学物理
凝聚态物理
纳米技术
化学
物理
光学
核物理学
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Micron 作者:Nan Jiang 出版日期:2023-08-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|