| 标题 |
 Thickness and refractive index measurements of a thin-film using an artificial neural network algorithm 用人工神经网络算法测量薄膜的厚度和折射率
相关领域
折射率
人工神经网络
多层感知器
算法
计算机科学
材料科学
薄膜
波长
感知器
干扰（通信）
光学
人工智能
光电子学
物理
纳米技术
电信
频道（广播）
|
| 网址 | |
| DOI |
提醒：求助人提供的doi与AI识别不一致
10.1088/1681-7575/acb70d
Doi
|
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接，等待应助者上传 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
毛豆
无名老大
归尘
方羽
pluto
36456657
Leonardi
彭于彦祖
南宫清涟
iNk
坚强亦丝
hardworkcd
丰知然
Candice
pcr163
Singularity
跳跃仙人掌
杳鸢
尊敬的金针菇
tuanheqi
皖公网安备34019202002308
