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Ionization-induced annealing of defects in 3C–SiC: Ion channeling and positron annihilation spectroscopy investigations
3C-SiC缺陷的电离诱导退火:离子沟道和正电子湮没谱研究
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期刊:Journal of materials research/Pratt's guide to venture capital sources 作者:N. Sreelakshmi; G.R. Umapathy; S. Abhaya; C. David; Sunil Ojha; et al 出版日期:2023-01-12 |
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