标题 |
Simultaneous measurement of the two-photon coefficient and free-carrier cross section above the bandgap of crystalline silicon
晶体硅带隙以上双光子系数和自由载流子截面的同时测量
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期刊:IEEE Journal of Quantum Electronics 作者:T. Boggess; K. Bohnert; K. Mansour; S. Moss; I. Boyd; A. Smirl 出版日期:2004-04-27 |
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