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Temperature and frequency dependent electrical characterization of HfO2/InxGa1−xAs interfaces using capacitance-voltage and conductance methods
用电容-电压和电导法表征HfO2/InxGa1-xAs界面的温度和频率相关电学
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Eileen O’Connor; Scott Monaghan; Rathnait Long; Aileen O׳Mahony; Ian M. Povey; et al 出版日期:2009-03-09 |
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