标题 |
Study of Thermal Cycle Induced CPI Failure Mode in a Lidded FC-BGA Package
带盖FC-BGA封装中热循环诱导的CPI失效模式研究
相关领域
球栅阵列
失效模式及影响分析
倒装芯片
温度循环
可靠性(半导体)
材料科学
压力(语言学)
互连
焊接
芯片级封装
炸薯条
集成电路封装
可靠性工程
电子工程
结构工程
热的
计算机科学
复合材料
工程类
集成电路
电气工程
光电子学
哲学
胶粘剂
计算机网络
语言学
功率(物理)
图层(电子)
量子力学
物理
气象学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Proceedings 作者:Muhammad Morshed; Esther Chen; Anita Madan 出版日期:2019-12-01 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|