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Reduced fatigue and leakage of ferroelectric TiN/Hf0.5Zr0.5O2/TiN capacitors by thin alumina interlayers at the top or bottom interface
通过顶部或底部界面的薄氧化铝夹层降低铁电TiN/Hf0.5Zr0.5O2/TiN电容器的疲劳和泄漏
相关领域
材料科学
铁电性
锡
电容器
电介质
泄漏(经济)
光电子学
薄膜
纳米技术
电气工程
冶金
电压
宏观经济学
经济
工程类
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其它 |
期刊:Nanotechnology 作者:H. Alex Hsain; Young Hwan Lee; Suzanne Lancaster; Patrick D. Lomenzo; Bohan Xu; et al 出版日期:2023-01-13 |
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