标题 |
Impact of oxide/4H-SiC interface state density on field-effect mobility of counter-doped n-channel 4H-SiC MOSFETs
氧化物/4H-SiC界面态密度对反掺杂n沟道4H-SiC MOSFETs场效应迁移率的影响
相关领域
材料科学
兴奋剂
电子迁移率
场效应晶体管
氧化物
金属
分析化学(期刊)
MOSFET
栅氧化层
阈值电压
场效应
晶体管
光电子学
化学
电压
电气工程
工程类
色谱法
冶金
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Takuma Doi; Shigehisa Shibayama; Mitsuo Sakashita; Noriyuki Taoka; Mitsuaki Shimizu; et al 出版日期:2022-02-01 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|