| 标题 |
 Attention-based deep learning for chip-surface-defect detection 基于注意力的芯片表面缺陷检测深度学习
相关领域
计算机科学
人工智能
模式识别（心理学）
深度学习
特征（语言学）
集合（抽象数据类型）
炸薯条
特征提取
领域（数学）
目标检测
数据挖掘
数学
哲学
程序设计语言
纯数学
电信
语言学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：The International Journal of Advanced Manufacturing Technology 作者：Shuo Wang; Hongyu Wang; Fan Yang; Fei Liu; Long Zeng 出版日期：2022-06-06 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成，仅限求助人下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
HEIKU
寻道图强
OCDer
有人
勤劳晓亦
乐乐乐乐乐乐
pgjwl
坚强的广山
美好乐松
爱静静
从容芮
lanxinyue
愉快的真
YifanWang
vlots
Magali
Migue
乐乐
猫咪老师
归海浩阑
皖公网安备34019202002308
