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 Comprehensive Schottky Barrier Height Behavior and Reliability Instability with Ni/Au and Pt/Ti/Pt/Au on AlGaN/GaN High-Electron-Mobility Transistors AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管中Ni/Au和Pt/Ti/Pt/Au的综合肖特基势垒高度行为和可靠性不稳定性
相关领域
高电子迁移率晶体管
材料科学
欧姆接触
肖特基势垒
光电子学
反向漏电流
肖特基二极管
晶体管
泄漏（经济）
压力（语言学）
电气工程
二极管
纳米技术
电压
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| 其它 |
期刊：Micromachines 作者：Surajit Chakraborty; Tae-Woo Kim 出版日期：2022-01-04 |
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