标题 |
Early detection of valuable patents using a deep learning model: Case of semiconductor industry
基于深度学习模型的有价值专利早期检测:半导体行业案例
相关领域
计算机科学
深度学习
人工智能
利用
投资(军事)
半导体工业
专利局
数据科学
知识管理
工程类
政治学
政治
法学
机械工程
计算机安全
制造工程
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DOI | |
其它 |
期刊:Technological Forecasting and Social Change 作者:Park Chung; So Young Sohn 出版日期:2020-09-01 |
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