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 Fully Integrated Built-In Self Test of Millimeter-Wave LNA based on Avalanche Noise Diodes in 130 nm SiGe BiCMOS Technology 130 nm SiGe BiCMOS技术中基于雪崩噪声二极管的毫米波LNA全集成内置自检
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期刊： 作者：Guendalina Simoncini; Valentina Palazzi; Giulia Orecchini; F. Alimenti 出版日期：2023-09-18 |
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