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  Automatic Measurement of Silicon Lattice Spacings in High-Resolution Transmission Electron Microscopy Images Through 2D Discrete Fourier Transform and Inverse Discrete Fourier Transform 通过二维离散傅里叶变换和离散傅里叶逆变换自动测量高分辨率透射电子显微镜图像中的硅晶格间距
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期刊：Nanomanufacturing and Metrology 作者：Fang Wang; Yushu Shi; Shu Zhang; Yushu Shi; Wei Li 出版日期：2022-04-06 |
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