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X-ray photoelectron spectroscopy characteristics of the W/TiN/Si and W/TiN/SiO2/Si structures
W/TiN/Si和W/TiN/SiO2/Si结构的X射线光电子能谱特征
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期刊:Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena 作者:Sunil Kumar; D. Chopra; G. C. Moore Smith 出版日期:1993-08-01 |
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