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Modeling of ESR in metallized film capacitors and its implication on pulse handling capability
金属化薄膜电容器ESR模型及其对脉冲处理能力的影响
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Hua Li; Xiang Huang; Zhiwei Li; Haoyuan Li; Wenjuan Wang; et al 出版日期:2015-06-01 |
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