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 Investigation of optical and electrical properties of TiO2, SiO2, and Ag single and multilayer thin films using spectroscopic ellipsometry and spectrophotometry methods: prepared by spin coating and DC magnetron sputtering 用光谱椭偏法和分光光度法研究TiO2、SiO2和Ag单层和多层薄膜的光学和电学性能：通过旋涂和直流磁控溅射制备
相关领域
材料科学
旋涂
薄膜
椭圆偏振法
分析化学（期刊）
纳米技术
化学
色谱法
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| 其它 |
期刊：Physica Scripta 作者：Hamid Entezarmahdi; Hassan Sedghi 出版日期：2024-03-06 |
| 求助人 | |
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