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Thermal and Electrical Analysis of the Electrostatic Chuck for the Etch Equipment
蚀刻设备用静电卡盘的热电分析
相关领域
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期刊:IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者:Tae Woong Yoon; Minsuk Choi; Sang Jeen Hong 出版日期:2023-08-02 |
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