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 Annealing effects of In2O3 thin films on electrical properties and application in thin film transistors 退火对In2O3薄膜电学性能的影响及其在薄膜晶体管中的应用
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期刊：Thin Solid Films 作者：Zhen Yuan; Xiaobo Zhu; Wei Xiong; Xing‐Min Cai; Bingpo Zhang; et al 出版日期：2011-03-01 |
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