标题 |
Al-doped and Deposition Temperature-engineered HfO2 Near Morphotropic Phase Boundary with Record Dielectric Permittivity (~68)
具有记录介电常数(~68)的形态向相边界附近的Al掺杂和沉积温度工程HfO2
相关领域
电介质
相界
介电常数
兴奋剂
材料科学
相(物质)
分析化学(期刊)
物理
光电子学
化学
有机化学
量子力学
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期刊:2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Jiuren Zhou; Zuopu Zhou; Leming Jiao; Xinke Wang; Yuye Kang; et al 出版日期:2021-12-11 |
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