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 HRTEM Analysis of Defect Structures in AIN Thin Films AIN薄膜缺陷结构的HRTEM分析
相关领域
高分辨率透射电子显微镜
材料科学
结晶学
纳米技术
化学
透射电子显微镜
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Jason R. Heffelfinger; Kevin F. McCarty; Douglas L. Medlin 出版日期：1997-08-01 |
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