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 Fast detection of manufacturing systematic design pattern failures causing device yield loss 制造系统设计模式失效导致设备成品率损失的快速检测
相关领域
计算机科学
产量（工程）
可靠性工程
材料科学
复合材料
工程类
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期刊：Proceedings of SPIE 作者：Jean-Christophe Le Denmat; Nelly Feldman; Olivia Riewer; Emek Yesilada; Michel Vallet; et al 出版日期：2015-03-18 |
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