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 Influences of deformation defects on etching behaviors of high-strength and high-conductivity Cu alloy for lead frame 变形缺陷对引线框架用高强高导铜合金腐蚀行为的影响
相关领域
引线框架
合金
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期刊：Microelectronics reliability/Microelectronics and reliability 作者：Junfan Fang; Qingke Zhang; Jingyuan Li; Feng Liu; Chaofeng Li; et al 出版日期：2024-08-01 |
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