Hot carrier reliability assessment of vacuum gate dielectric trench MOSFET (TG-VacuFET)

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标题	Hot carrier reliability assessment of vacuum gate dielectric trench MOSFET (TG-VacuFET) 真空栅介质沟槽MOSFET（TG-VacuFET）的热载流子可靠性评估相关领域 MOSFET 材料科学沟槽光电子学可靠性（半导体）电介质栅极电介质晶体管电气工程纳米技术电压物理工程类功率（物理）图层（电子）量子力学
网址	http://dx.doi.org/10.1140/epjp/s13360-022-02745-0
DOI	10.1140/epjp/s13360-022-02745-0 doi
求助人	研友_yLpYkn 在 2024-07-22 20:21:35 发布自江苏，悬赏 10 积分
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