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 Total ionizing dose effects of 60Co-γ ray radiation on SiC MOSFETs with different gate oxide thickness 60Co-γ射线辐射对不同栅氧化层厚度SiC MOSFETs总电离剂量的影响
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期刊：Radiation Effects and Defects in Solids 作者：Haonan Feng; Xiaowen Liang; Jing Sun; Jie Feng; Ying Wei; et al 出版日期：2023-08-03 |
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