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 A transversal approach to predict surface charge compensation in piezoelectric force microscopy 预测压力显微镜中表面电荷补偿的横向方法
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期刊：Applied Surface Science 作者：Huan Tan; Jike Lyu; Yunwei Sheng; Pamela Machado; Tingfeng Song; et al 出版日期：2023-01-01 |
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