标题 |
Advanced multi-scale characterization of loess microstructure: Integrating μXCT and FIB-SEM for detailed fabric analysis and geotechnical implications
黄土微结构的高级多尺度表征:集成μ XCT和FIB-SEM进行详细的结构分析和岩土工程意义
相关领域
黄土
岩土工程
表征(材料科学)
微观结构
比例(比率)
地质学
材料科学
复合材料
地貌学
纳米技术
物理
量子力学
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其它 |
期刊:Engineering Geology 作者:Bo Yu; Tom Dijkstra; Wen Fan; Ian Smalley; Ya-ni Wei; et al 出版日期:2024-09-01 |
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