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 Fin Shape Impact on FinFET Leakage With Application to Multithreshold and Ultralow-Leakage FinFET Design 翅片形状对FinFET泄漏的影响及其在多阈值和超低泄漏FinFET设计中的应用
相关领域
鳍
泄漏（经济）
电气工程
阈下传导
晶体管
电子工程
MOSFET
工程类
材料科学
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电压
机械工程
经济
宏观经济学
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| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Brad D. Gaynor; Soha Hassoun 出版日期：2014-07-21 |
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