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 Temperature Dependence of Electrical Properties and Conduction Mechanism of SiNx‐Based Resistive Random Access Memory SiNx基电阻式随机存取存储器电学性质的温度依赖性及导电机制
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期刊：physica status solidi (a) 作者：Yifan Bai; Yiwei Duan; Mengyi Qian; Shilong Zhu; Xiaohua Ma; et al 出版日期：2023-09-23 |
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