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 X-ray Absorption Fine Structural Study of Atomic Structures and Chemical States of Dopants in 4H-SiC(0001) 4H-SiC（0001）中掺杂剂原子结构和化学状态的X射线吸收精细结构研究
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期刊：ACS Applied Electronic Materials 作者：Yuhua Tsai; Jingmin Tang; Yoshiyuki Yamashita 出版日期：2023-06-22 |
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