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Reliability and stability of SiC power mosfets and next-generation SiC MOSFETs
SiC功率MOSFET和下一代SiC MOSFET的可靠性和稳定性
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期刊: 作者:Brett Hull; Scott T. Allen; Q. Zhang; D. A. Gajewski; Vipindas Pala; et al 出版日期:2014-10-01 |
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