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[高分] 书籍 Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications
光学计量中的条纹图样分析：理论、算法和应用
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Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology: Theory, Algorithms, and Applications Manuel Servin, Moises Padilla, J. Antonio Quiroga ISBN: 978-3-527-41152-8 August 2014 344 pages |
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