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 Analysis of diode recovery phenomena using transient analysis method for semiconductor devices coupled with external circuit 用瞬态分析法分析与外电路耦合的半导体器件的二极管恢复现象
相关领域
二极管
瞬态（计算机编程）
电压
半导体器件
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光电子学
瞬态电压抑制器
半导体
瞬态分析
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电子线路
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复合材料
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期刊： 作者：Akira Mishima; S. Kimura; M. Mori; Hiroshi Kozaka 出版日期：2002-11-19 |
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