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Ferroelectric and dielectric properties of Hf0.5Zr0.5O2 thin film near morphotropic phase boundary
Hf0.5Zr 0.5 O2薄膜在形态向相边界附近的铁电和介电性质
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期刊:arXiv (Cornell University) 作者:Alireza Kashir; Hyunsang Hwang 出版日期:2021-02-05 |
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