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 The use of autorefractors using the image‐size principle in determining on‐axis and off‐axis refraction. Part 2: Theoretical study of peripheral refraction with the Grand Seiko AutoRef/Keratometer WAM‐5500 使用图像尺寸原理自动验光仪确定轴上和轴外屈光。第2部分：使用Grand Seiko AutoRef/角膜曲率计WAM-5500进行周边屈光的理论研究
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期刊：Ophthalmic and Physiological Optics 作者：David A. Atchison; Marwan Suheimat; Stanislovas Zacharovas; Charles E. Campbell 出版日期：2021-12-20 |
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