标题 |
![]() 一种扩展的CMOS ISFET模型,包括物理设计几何结构及其对性能和失调变化的影响
相关领域
CMOS芯片
ISFET
阈值电压
阈下传导
阈下斜率
电子工程
MOSFET
半导体器件建模
晶体管
偏移量(计算机科学)
场效应晶体管
灵敏度(控制系统)
电压
噪音(视频)
材料科学
工程类
电气工程
计算机科学
人工智能
图像(数学)
程序设计语言
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:I.E.E.E. transactions on electron devices/IEEE transactions on electron devices 作者:Yan Liu; Pantelis Georgiou; Themis Prodromakis; Timothy G. Constandinou; C. Toumazou 出版日期:2011-12-01 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|