标题 |
Elimination of stress induced dislocation in deep Poly Sinker LDMOS technology
深度多晶硅LDMOS工艺中应力诱导位错的消除
相关领域
LDMOS
材料科学
薄脆饼
泄漏(经济)
位错
晶体管
制作
光电子学
氧化物
压力(语言学)
电气工程
复合材料
冶金
电压
工程类
医学
语言学
哲学
替代医学
病理
经济
宏观经济学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Xiangming Xu; Jingfeng Huang; Han Yu; Biao Ma; Peng-Fei Wang; et al 出版日期:2015-02-01 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|