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标题
Accelerated testing of SiO/sub 2/ reliability
SiO/sub 2/可靠性加速试验
相关领域
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网址
https://doi.org/10.1109/16.477595
DOI
10.1109/16.477595 doi
其它 期刊：IEEE Transactions on Electron Devices
作者：Elyse Rosenbaum; J.C. King; Chenming Hu
出版日期：1996-01-01
求助人
画画的baby 在 2024-12-16 20:24:17 发布自上海，悬赏 10 积分
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