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 Universal mechanisms of Al metallization ageing in power MOSFET devices 功率MOSFET器件中Al金属化老化的普遍机制
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Donatien Martineau; C. Levade; M. Legros; P. Dupuy; T. Mazeaud 出版日期：2014-07-15 |
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