标题 |
Study on Failure Mechanisms of SiC Power Devices Induced by Heavy Ion Irradiation
重离子辐照SiC功率器件失效机理研究
相关领域
辐照
二极管
材料科学
失效机理
失效模式及影响分析
碳化硅
重离子
光电子学
功率(物理)
离子
电气工程
电子工程
工程类
化学
物理
核物理学
复合材料
热力学
有机化学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Chao Peng 出版日期:2023-05-24 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|