标题 |
Halo and LDD Engineering for Multiple ${\rm V}_{\rm TH}$ High Performance Analog CMOS Devices
多个${\rm V}_{\rm TH}$高性能模拟CMOS器件的Halo和LDD工程
相关领域
CMOS芯片
可靠性(半导体)
材料科学
逻辑门
光电子学
电气工程
缩放比例
栅氧化层
电子工程
电压
工程类
晶体管
物理
量子力学
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功率(物理)
几何学
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其它 |
期刊:IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者:Jyh-Chyurn Guo 出版日期:2007-08-17 |
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