标题 |
Increased Risk of Death with Congenital Anomalies in the Offspring of Male Semiconductor Workers
男性半导体工人后代先天性异常死亡风险增加
相关领域
后代
优势比
医学
流产
置信区间
病因学
人口学
逻辑回归
产科
怀孕
儿科
内科学
生物
遗传学
社会学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:International Journal of Occupational and Environmental Health 作者:Ching‐Chun Lin; Jung‐Der Wang; Gong-Yih Hsieh; Yu-Yin Chang; Pau‐Chung Chen 出版日期:2008-04-01 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|